紫外線(UV)の測定は光源(放射源)の強さ、あるいは光源で照射した面に当たる放射の量などの測定と、センサーや光反応を生ずる材料などについての入射紫外線(UV)の量と反応の度合いとの関係の測定(評価)に分けられます。そしてこれらについては大抵の場合に波長的な特性が問題になります。
放射源の分光放射測定―使用する光学機器と入射のための光学系 放射源に対する最も一般的な測定は分光放射照度測定であって、これには通常はモノクロメーターと補助光学系を用いますが、300nm以下では光学系の透過率、反射率が低下するので、できるだけ簡素化した光学系の組み合わせにします。放射照度を測定するには放射源の形状による影響をなくすために拡散入射をさせる必要があります。そのために拡散面としてはBaSO4、LiF粉末、Halonなどの圧着面の反射が使用できますが、波長200nmでは反射率がかなり低下します。透過面として、簡易的に合成石英の砂ずり面(150メッシュ位)も使用できますが、短波長域では効率が低いです。波長200nm以下の測定では、モノクロメータを含む測定系を真空または窒素雰囲気中に配置しなければなりません。このためには、極小形のモノクロメータ(例えばOptometric Corp.MC1、約60×50×100mm、f=74mm、F3.9など)が便利です。本格的な真空中測定のためには、モノクロメータ自身を真空にできる真空モノクロメータがありますが、構造上から放射照度などの測定にはかなり使いにくいです。ハロゲン電球標準で測定を行う場合には迷光の除去対策が必要です。一般的な方法としては、①長波長を遮断するフィルタを併用する、②センサーとして長波長側に応答しないものを用いる、などが有効です。迷光の評価は、測定波長よりもわずかに長波長側に遮断点のある遮断フィルタを光路に入れて、迷光成分だけを検出して差し引く、などの方法によることが多いです。センサーとして最も一般的なのは光電子倍増管(PM)で、200~320nmまでのUV領域だけならばCs-Te、可視も含むならばCs-Sb,マルチアルカリ光電面のものを用います。UV領域での波長的な分解能は、特別な場合を除いて5nm程度と考えてよいでしょう。
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